Раздел
|
Лазерная техника и технологии
|
Программа
|
Эталоны и научные приборы 2006-2010
|
Область применения
|
Комплекс предназначен для экспериментального изучения нестационарных процессов, инициируемых мощным импульсным излучением на выбранных длинах волн, в объемных и пленочных образцах — диэлектрических, металлических и полупроводниковых. Целесообразно применять для экспрессной бесконтактной диагностики диэлектрические и металлические пленки толщиной менее микрона.
|
Описание продукции
|
Кинетические и амплитудные параметры наблюдаемых оптических эффектов фиксируются и используются для расчета характеристик материалов, таких как теплопроводность пленочных покрытий и приповерхностных зон объемных материалов, упругие параметры пленок, длительность возбужденных состояний в активных элементах и нелинейно-оптические свойства лазерных материалов, времена рекомбинации и коэффициенты диффузии свободных носителей заряда в полупроводниках.
|
Конкуренто- способность
|
Преимущества: полная бесконтактность измерений; применимость для аттестации как тонких субмикронных пленок, так и объемных материалов.
|
Ожидаемые результаты применения
|
Потенциальными потребителями разработанных методов являются научные учреждения и промышленные предприятия РБ.
|
Предложения по реализации
|
Поставка по отдельным заказам, передача технической документации и консультации по освоению, сотрудничество с потребителем по применению.
|
Степень готовности
|
Проектно-сметная документация.
|
Объект передачи прав
|
Научно-техническая информация.
|
Форма передачи прав
|
Договор о создании и использовании результатов интеллектуальной деятельности.
|
Предложения по сотрудничеству
|
Совместные НИОК(Т)Р.
|